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Failure Analysis: High Technology Devices (de Gruyter Stem) (en Inglés)
Daniel J. D. Sullivan
(Autor)
·
Eric J. Carleton
(Autor)
·
de Gruyter
· Tapa Blanda
Failure Analysis: High Technology Devices (de Gruyter Stem) (en Inglés) - Sullivan, Daniel J. D. ; Carleton, Eric J.
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Reseña del libro "Failure Analysis: High Technology Devices (de Gruyter Stem) (en Inglés)"
The book presents a unique view of failure analysis of high technology devices. It describes capabilities and limitations of many analytical techniques and testing paths and decisions best followed in example failure analysis studies.
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El libro está escrito en Inglés.
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