Name: Failure Analysis: High Technology Devices (de Gruyter Stem) (en Inglés)
SKU: 54579589
Price: 74.12 USD
Availability: InStock
Author: Sullivan, Daniel J. D. ; Carleton, Eric J.
ISBN: 9781501524783

Selecciona tu país

América

Europa

Resto del mundo

portada Failure Analysis: High Technology Devices (de Gruyter Stem) (en Inglés)

Failure Analysis: High Technology Devices (de Gruyter Stem) (en Inglés)

Formato

Libro Físico

Autor

Daniel J. D. Sullivan

Eric J. Carleton

Editorial

de Gruyter

Idioma

Inglés

N° páginas

120

Encuadernación

Tapa Blanda

Dimensiones

24.4x17x0.7 cm

Peso

0.22 kg.

ISBN13

9781501524783

Categorías

Química analítica
Ciencia de materiales
Ingeniería electrónica

Failure Analysis: High Technology Devices (de Gruyter Stem) (en Inglés)

Daniel J. D. Sullivan (Autor) · Eric J. Carleton (Autor) · de Gruyter · Tapa Blanda

Libro Nuevo Importado

Envío: 16 a 23 días háb.

$ 134.76$ 74.12

-45%

Costos de importación incluídos en el precio ✅

Libro Nuevo

Quedan 80 unidades

$ 74.12

Llega entre el 06 Oct y el 20 Oct a Quito, Pichincha. Seleccionar ubicación

Agregar a lista de deseos

Reseña del libro "Failure Analysis: High Technology Devices (de Gruyter Stem) (en Inglés)"

The book presents a unique view of failure analysis of high technology devices. It describes capabilities and limitations of many analytical techniques and testing paths and decisions best followed in example failure analysis studies.