Compartir
Teoretyczna ocena wspólczynnika odbicia w cienkich warstwach AL/SiO2 (en Polaco)
Jesús Javier Ortega Cabrera
(Autor)
·
Wydawnictwo Nasza Wiedza
· Tapa Blanda
Teoretyczna ocena wspólczynnika odbicia w cienkich warstwach AL/SiO2 (en Polaco) - Ortega Cabrera, Jesús Javier
$ 68.91
$ 137.82
Ahorras: $ 68.91
Elige la lista en la que quieres agregar tu producto o crea una nueva lista
✓ Producto agregado correctamente a la lista de deseos.
Ir a Mis Listas
Origen: Estados Unidos
(Costos de importación incluídos en el precio)
Se enviará desde nuestra bodega entre el
Martes 30 de Julio y el
Martes 13 de Agosto.
Lo recibirás en cualquier lugar de Ecuador entre 1 y 3 días hábiles luego del envío.
Reseña del libro "Teoretyczna ocena wspólczynnika odbicia w cienkich warstwach AL/SiO2 (en Polaco)"
Poprawa wlaściwości optycznych materialu, takich jak reflektancja, wiąże się ze zlożonym poszukiwaniem optymalnych parametrów eksperymentalnych w procesie ich otrzymywania. Wykorzystanie oprogramowania obliczeniowego do symulacji procesów wzrostu cienkich warstw stanowi istotną korzyśc ze względu na brak zależności od rzeczywistego systemu, jak również możliwośc zbadania szerszego zakresu występujących wielkości fizycznych. Ponadto, istnieje potrzeba w przemyśle motoryzacyjnym, Varroc Lighting Systems(c) otrzymal zadanie poprawy wspólczynnika odbicia reflektorów aluminiowych, więc przeprowadziliśmy rozwój, przy użyciu oprogramowania NASCAM(R), które wykorzystuje metodę kinetyczną Monte Carlo do opracowania modelu ukladu fizycznego, który ma byc badany w skali nanometrycznej, pozwoli nam to na analizę wplywu różnych wielkości, które mogą wplywac na wspólczynnik odbicia materialu.
- 0% (0)
- 0% (0)
- 0% (0)
- 0% (0)
- 0% (0)
Todos los libros de nuestro catálogo son Originales.
El libro está escrito en Polaco .
La encuadernación de esta edición es Tapa Blanda.
✓ Producto agregado correctamente al carro, Ir a Pagar.
