Name: Active Probe Atomic Force Microscopy. A Practical Guide on Precision Instrumentation
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Author: Fangzhou Xia;Kamal Youcef-Toumi;Ivo W. Rangelow
ISBN: 9783031442353

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portada Active Probe Atomic Force Microscopy. A Practical Guide on Precision Instrumentation

Active Probe Atomic Force Microscopy. A Practical Guide on Precision Instrumentation

Formato

Libro Físico

Editorial

Springer International Publishing AG

Autor

Fangzhou Xia;Kamal Youcef-Toumi;Ivo W. Rangelow

Año

2025

N° páginas

366

Encuadernación

Tapa Blanda

Dimensiones

23.5x15.5 cm

ISBN13

9783031442353

Active Probe Atomic Force Microscopy. A Practical Guide on Precision Instrumentation

Fangzhou Xia;Kamal Youcef-Toumi;Ivo W. Rangelow (Autor) · Springer International Publishing AG · Tapa Blanda

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Reseña del libro "Active Probe Atomic Force Microscopy. A Practical Guide on Precision Instrumentation"

From a perspective of precision instrumentation, this book provides a guided tour to readers on exploring the inner workings of atomic force microscopy (AFM).