Name: analytical electron microscopy for materials science (en Inglés)
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Author: Shindo, Daisuke ; Oikawa, T.
ISBN: 9784431703365

portada analytical electron microscopy for materials science (en Inglés)

analytical electron microscopy for materials science (en Inglés)

Formato

Libro Físico

Autor

Daisuke Shindo

T. Oikawa

Editorial

Springer

Año

2003

Idioma

Inglés

N° páginas

152

Encuadernación

Tapa Blanda

Dimensiones

27.9x21x0.9 cm

Peso

0.39 kg.

ISBN

4431703365

ISBN13

9784431703365

Categorías

Astronomía, espacio y tiempo
Física de la materia condensada (física del estado líquido y del estado sólido)
Ingeniería: general

analytical electron microscopy for materials science (en Inglés)

Daisuke Shindo (Autor) · T. Oikawa (Autor) · Springer · Tapa Blanda

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Reseña del libro "analytical electron microscopy for materials science (en Inglés)"

Analytical electron microscopy is one of the most powerful tools today for characterization of the advanced materials that support the nanotechnology of the twenty-first century. In this book the authors clearly explain both the basic principles and the latest developments in the field. In addition to a fundamental description of the inelastic scattering process, an explanation of the constituent hardware is provided. Standard quantitative analytical techniques employing electron energy-loss spectroscopy and energy-dispersive X-ray spectroscopy are also explained, along with elemental mapping techniques. Included are sections on convergent beam electron diffraction and electron holography utilizing the field emission gun. With generous use of illustrations and experimental data, this book is a valuable resource for anyone concerned with materials characterization, electron microscopy, materials science, crystallography, and instrumentation.