Name: Atomic-force Microscopy and Its Applications (en Inglés)
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Author: Tański, Tomasz ; Staszuk, Marcin ; Ziebowicz, Boguslaw
ISBN: 9781789851694

portada Atomic-force Microscopy and Its Applications (en Inglés)

Atomic-force Microscopy and Its Applications (en Inglés)

Formato

Libro Físico

Editorial

Intechopen

Autor

Tański, Tomasz ; Staszuk, Marcin ; Ziebowicz, Boguslaw

Idioma

Inglés

N° páginas

114

Encuadernación

Tapa Dura

Dimensiones

24.4x17x0.8 cm

Peso

0.39 kg.

ISBN13

9781789851694

Categorías

Química analítica

Atomic-force Microscopy and Its Applications (en Inglés)

TańSki, Tomasz ; Staszuk, Marcin ; Ziebowicz, Boguslaw (Autor) · Intechopen · Tapa Dura

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Reseña del libro "Atomic-force Microscopy and Its Applications (en Inglés)"

Atomic force microscopy is a surface analytical technique used in air, liquids or a vacuum to generate very high-resolution topographic images of a surface, down to atomic resolution. This book is not only for students but also for professional engineers who are working in the industry as well as specialists. This book aims to provide the reader with a comprehensive overview of the new trends, research results and development of atomic force microscopy. The chapters for this book have been written by respected and well-known researchers and specialists from different countries. We hope that after studying this book, you will have objective knowledge about the possible uses of atomic force microscopy in many scientific aspects of our civilisation.