Name: Atomic Force Microscopy: Methods and Protocols (en Inglés)
Price: 142.05 USD
Availability: InStock
Author: Santos, Nuno C. ; Carvalho, Filomena A.
ISBN: 9781493994076

portada Atomic Force Microscopy: Methods and Protocols (en Inglés)

Atomic Force Microscopy: Methods and Protocols (en Inglés)

Formato

Libro Físico

Editorial

Humana

Autor

Santos, Nuno C. ; Carvalho, Filomena A.

Idioma

Inglés

N° páginas

372

Encuadernación

Tapa Blanda

ISBN13

9781493994076

N° edición

Categorías

Medicina preclínica: ciencias básicas
Técnicas de diagnóstico por la imagen
Radiografía
Biofísica

Atomic Force Microscopy: Methods and Protocols (en Inglés)

Santos, Nuno C. ; Carvalho, Filomena A. (Autor) · Humana · Tapa Blanda

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Reseña del libro "Atomic Force Microscopy: Methods and Protocols (en Inglés)"

This book aims to provide examples of applications of atomic force microscopy (AFM) using biological samples, showing different methods for AFM sample preparation, data acquisition and processing, and avoiding technical problems. Divided into two sections, chapters guide readers through image artifacts, process and quantitatively analyze AFM images, lipid bilayers, image DNA-protein complexes, AFM cell topography, single-molecule force spectroscopy, single-molecule dynamic force spectroscopy, fluorescence methodologies, molecular recognition force spectroscopy, biomechanical characterization, AFM-based biosensor setup, and detail how to implement such an in vitro system, which can monitor cardiac electrophysiology, intracellular calcium dynamics, and single cell mechanics. Written in the highly successful Methods in Molecular Biology series format, chapters include introductions to their respective topics, lists of the necessary materials andreagents, step-by-step, readily reproducible laboratory protocols, and tips on troubleshooting and avoiding known pitfalls.Authoritative and cutting-edge, Atomic Force Microscopy: Methods and Protocols is useful for researchers at different stages, from newcomers to experienced users, interested in new AFM applications.