Envío express con hasta 60% OFF  Ver más

Enviar a
Quito, Pichincha
0
  • argentina
  • chile
  • colombia
  • españa
  • méxico
  • perú
  • estados unidos
  • internacional

Selecciona tu país

América

Europa

Resto del mundo

portada design and test technology for dependable systems-on-chip
design and test technology for dependable systems-on-chipdesign and test technology for dependable systems-on-chipdesign and test technology for dependable systems-on-chipdesign and test technology for dependable systems-on-chip
Formato
Libro Físico
Editorial
Año
2010
N° páginas
350
ISBN
1609602129
ISBN13
9781609602123

design and test technology for dependable systems-on-chip

Raimund (Edt) Ubar (Autor) · igi global · Libro Físico

design and test technology for dependable systems-on-chip - raimund (edt) ubar

Libro Nuevo Importado
Envío: 16 a 23 días háb.
$ 339.90$ 186.94
-45%
Costos de importación incluídos en el precio ✅
Libro Nuevo

Quedan 58 unidades

$ 186.94
Llega entre el 14 Oct y el 27 Oct a Quito, Pichincha. Seleccionar ubicación

Opiniones del libro

Preguntas frecuentes sobre el libro

Todos los libros de nuestro catálogo son Originales.

Preguntas y respuestas sobre el libro

¿Tienes una pregunta sobre el libro? Inicia sesión para poder agregar tu propia pregunta.

Opiniones sobre Buscalibre

Ver más opiniones de clientes