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portada Elements of Electromigration: Electromigration in 3d ic Technology (en Inglés)
Formato
Libro Físico
Editorial
Idioma
Inglés
N° páginas
132
Encuadernación
Tapa Dura
ISBN13
9781032470276
N° edición
1

Elements of Electromigration: Electromigration in 3d ic Technology (en Inglés)

K. N. Tu Yingxia Liu (Autor) · Crc Press · Tapa Dura

Elements of Electromigration: Electromigration in 3d ic Technology (en Inglés) - K. N. Tu Yingxia Liu

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Reseña del libro "Elements of Electromigration: Electromigration in 3d ic Technology (en Inglés)"

In this invaluable resource for graduate students and practicing professionals, Tu and Liu provide a comprehensive account of electromigration and give a practical guide on how to manage its effects in microelectronic devices, especially newer devices that make use of 3D architectures.

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El libro está escrito en Inglés.
La encuadernación de esta edición es Tapa Dura.

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