portada Enhancement the Voltage Clamp Technique Under Noisy Input Currents (en Inglés)

Enhancement the Voltage Clamp Technique Under Noisy Input Currents (en Inglés)

Formato

Libro Físico

Autor

Ahmed Mahmood Khudhur

Yasir H. Naif

Abdolbaqi Mohammed Khdher

Editorial

LAP Lambert Academic Publishing

Idioma

Inglés

N° páginas

Encuadernación

Tapa Blanda

Dimensiones

22.9x15.2x0.4 cm

Peso

0.10 kg.

ISBN13

9783330335158

Categorías

Astronomía, espacio y tiempo

Enhancement the Voltage Clamp Technique Under Noisy Input Currents (en Inglés)

Ahmed Mahmood Khudhur (Autor) · Yasir H. Naif (Autor) · Abdolbaqi Mohammed Khdher (Autor) · LAP Lambert Academic Publishing · Tapa Blanda

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Reseña del libro "Enhancement the Voltage Clamp Technique Under Noisy Input Currents (en Inglés)"

Our brains keep working despite frequent failures of their component neurons, and this 'fault-tolerant' characteristic is of great interest to engineers who wish to make computers more reliable. Neuroscience is by far the most exciting branch of science because the brain is the most fascinating object in the universe. Every human brain is different - the brain makes each human unique and defines who he or she is.