Name: foundations of measurement,geometrical, threshold, and probabilistic representations (en Inglés)
Price: 36.42 USD
Availability: InStock
Author: Krantz, David H. ; Luce, R. Duncan ; Tversky, Amos
ISBN: 9780486453156

portada foundations of measurement,geometrical, threshold, and probabilistic representations (en Inglés)

foundations of measurement,geometrical, threshold, and probabilistic representations (en Inglés)

Formato

Libro Físico

Autor

Editorial

Idioma

Inglés

N° páginas

493

Encuadernación

Tapa Blanda

Dimensiones

21.5 x 16.1 x 2.7 cm

Peso

0.51 kg.

ISBN

0486453154

ISBN13

9780486453156

Categorías

Normas científicas

foundations of measurement,geometrical, threshold, and probabilistic representations (en Inglés)

Amos Tversky (Autor) · R. Duncan Luce (Autor) · David H. Krantz (Autor) · Dover Publications · Tapa Blanda

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Reseña del libro "foundations of measurement,geometrical, threshold, and probabilistic representations (en Inglés)"

All of the sciences―physical, biological, and social―have a need for quantitative measurement. This influential series, Foundations of Measurement, established the formal foundations for measurement, justifying the assignment of numbers to objects in terms of their structural correspondence.Volume I introduces the distinct mathematical results that serve to formulate numerical representations of qualitative structures. Volume II extends the subject in the direction of geometrical, threshold, and probabilistic representations, and Volume III examines representation as expressed in axiomatization and invariance.