Name: introduction to focused ion beams (en Inglés)
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Author: Giannuzzi, Lucille A. ; North Carolina State University Center f

portada introduction to focused ion beams (en Inglés)

introduction to focused ion beams (en Inglés)

Formato

Libro Físico

Ilustrado por

Lucille A. Giannuzzi

North Carolina State University Center f

Editorial

Springer

Autor

Giannuzzi, Lucille A. ; North Carolina State University Center f

Idioma

Inglés

N° páginas

357

Encuadernación

Tapa Blanda

Dimensiones

23.4x15.6x2 cm

Peso

0.53 kg.

ISBN

1441935746

ISBN13

9781441935748

Categorías

Ingeniería aplicada de revestimientos de superficies, capas y películas
Dispositivos y materiales electrónicos
Óptica aplicada

introduction to focused ion beams (en Inglés)

Lucille A. Giannuzzi (Ilustrado por) · North Carolina State University Center f (Ilustrado por) · Springer · Tapa Blanda

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Reseña del libro "introduction to focused ion beams (en Inglés)"

Introduction to Focused Ion Beams is geared towards techniques and applications. The first portion of this book introduces the basics of FIB instrumentation, milling, and deposition capabilities. The chapter dedicated to ion-solid interactions is presented so that the FIB user can understand which parameters will influence FIB milling behavior. The remainder of the book focuses on how to prepare and analyze samples using FIB and related tools, and presents specific applications and techniques of the uses of FIB milling, deposition, and dual platform techniques. This is the only text that discusses and presents the theory directly related to applications and the only one that discusses the vast applications and techniques used in FIBs and Dual platform instruments