Name: Learning From Vlsi Design Experience (en Inglés)
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Author: Weng Fook Lee
ISBN: 9783030032371

portada Learning From Vlsi Design Experience (en Inglés)

Learning From Vlsi Design Experience (en Inglés)

Formato

Libro Físico

Editorial

Springer

Autor

Weng Fook Lee

Año

2018

Idioma

Inglés

N° páginas

214

Encuadernación

Tapa Dura

ISBN13

9783030032371

N° edición

Categorías

Arquitectura y diseño lógico de ordenadores

Learning From Vlsi Design Experience (en Inglés)

Weng Fook Lee (Autor) · Springer · Tapa Dura

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Reseña del libro "Learning From Vlsi Design Experience (en Inglés)"

This book shares with readers practical design knowledge gained from the author’s 24 years of IC design experience. The author addresses issues and challenges faced commonly by IC designers, along with solutions and workarounds. Guidelines are described for tackling issues such as clock domain crossing, using lockup latch to cross clock domains during scan shift, implementation of scan chains across power domain, optimization methods to improve timing, how standard cell libraries can aid in synthesis optimization, BKM (best known method) for RTL coding, test compression, memory BIST, usage of signed Verilog for design requiring +ve and -ve calculations, state machine, code coverage and much more. Numerous figures and examples are provided to aid the reader in understanding the issues and their workarounds.