portada Méthodologie pour la sélection des systèmes de mesure (en Francés)

Méthodologie pour la sélection des systèmes de mesure (en Francés)

Formato

Libro Físico

Autor

Jackson Luis Schirigatti

Editorial

Editions Notre Savoir

Idioma

Francés

N° páginas

116

Encuadernación

Tapa Blanda

Dimensiones

22.9x15.2x0.7 cm

Peso

0.18 kg.

ISBN13

9786203626155

Categorías

Teoría general del derecho

Méthodologie pour la sélection des systèmes de mesure (en Francés)

Jackson Luis Schirigatti (Autor) · Editions Notre Savoir · Tapa Blanda

Libro Nuevo Importado

Envío: 25 a 32 días háb.

$ 134.66$ 74.06

-45%

Costos de importación incluídos en el precio ✅

Libro Nuevo

Quedan 10 unidades

$ 74.06

Llega entre el 25 Sep y el 08 Oct a Quito, Pichincha. Seleccionar ubicación

Agregar a lista de deseos

Reseña del libro "Méthodologie pour la sélection des systèmes de mesure (en Francés)"

Cette thèse présente des recommandations pour améliorer la méthodologie de sélection des systèmes de mesure. La méthodologie originale a pour principe de base la composition de deux étapes: la "réquisition" (ensemble de paramètres qui caractérisent la tâche de mesure) et l'étape du "processus de sélection" (composée d'informations techniques, logistiques et économiques formulées dans des feuilles d'évaluation, des critères d'évaluation avec des pondérations spécifiques déterminées par le métrologue et de l'analyse comparative des systèmes candidats). Le présent travail décrit la méthode et propose des recommandations avec un accent plus judicieux, basé sur des théories et des recommandations bibliographiques de plusieurs auteurs, ainsi que des recommandations normatives, incluant les suggestions suivantes: l'ajout de paramètres de sélection (exigences métrologiques), la mise en place du système d'assurance qualité métrologique, l'acquisition d'informations à partir des exigences métrologiques, la vision systémique du processus de qualité métrologique, les programmes d'audit et inter-laboratoires, et l'obtention et la maintenance des informations provenant des systèmes de mesure et des étalonnages, étant toutes les recommandations dirigées vers la conformité requise du processus de mesure.