Name: Reflection Electron Microscopy and Spectroscopy for Surface Analysis (en Inglés)
SKU: 19214877
Price: 236.96 USD
Availability: InStock
Author: Wang

portada Reflection Electron Microscopy and Spectroscopy for Surface Analysis (en Inglés)

Reflection Electron Microscopy and Spectroscopy for Surface Analysis (en Inglés)

Formato

Libro Físico

Editorial

Cambridge University Press

Autor

Wang

Año

1996

Idioma

Inglés

N° páginas

456

Encuadernación

Tapa Dura

ISBN

0521482666

ISBN13

9780521482660

N° edición

Categorías

Equipamiento, experimentos y técnicas científicas

Reflection Electron Microscopy and Spectroscopy for Surface Analysis (en Inglés)

Wang (Autor) · Cambridge University Press · Tapa Dura

Libro Nuevo Importado

Envío: 17 a 24 días háb.

$ 430.84$ 236.96

-45%

Costos de importación incluídos en el precio ✅

Libro Nuevo

Quedan más de 100 unidades

$ 236.96

Llega entre el 18 Sep y el 01 Oct a Quito, Pichincha. Seleccionar ubicación

Agregar a lista de deseos

Reseña del libro "Reflection Electron Microscopy and Spectroscopy for Surface Analysis (en Inglés)"

This book is a comprehensive review of the theories, techniques and applications of reflection electron microscopy (REM), reflection high-energy electron diffraction (RHEED) and reflection electron energy-loss spectroscopy (REELS). The book is divided into three parts: diffraction, imaging and spectroscopy. The text is written to combine basic techniques with special applications, theories with experiments, and the basic physics with materials science, so that a full picture of RHEED and REM emerges. An entirely self-contained study, the book contains much invaluable reference material, including FORTRAN source codes for calculating crystal structures data and electron energy-loss spectra in different scattering geometries. This and many other features makes the book an important and timely addition to the materials science literature for researchers and graduate students in physics and materials science.