Name: Reliability Analysis of Electrotechnical Devices (en Inglés)
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Author: Tan, Cher Ming

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portada Reliability Analysis of Electrotechnical Devices (en Inglés)

Reliability Analysis of Electrotechnical Devices (en Inglés)

Formato

Libro Físico

Editorial

Mdpi AG

Autor

Tan, Cher Ming

Idioma

Inglés

N° páginas

174

Encuadernación

Tapa Dura

Dimensiones

24.4x17x1.6 cm

Peso

0.58 kg.

ISBN13

9783036546537

Categorías

Química

Reliability Analysis of Electrotechnical Devices (en Inglés)

Tan, Cher Ming (Autor) · Mdpi AG · Tapa Dura

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Reseña del libro "Reliability Analysis of Electrotechnical Devices (en Inglés)"

This is a book on the practical approaches of reliability to electrotechnical devices and systems. It includes the electromagnetic effect, radiation effect, environmental effect, and the impact of the manufacturing process on electronic materials, devices, and boards.