portada Scanning Probe Microscopy: Electrical and Electromechanical Phenomena at the Nanoscale (en Inglés)

Scanning Probe Microscopy: Electrical and Electromechanical Phenomena at the Nanoscale (en Inglés)

Formato

Libro Físico

Autor

Sergei V. Kalinin

Alexei Gruverman

Editorial

Springer

Idioma

Inglés

N° páginas

980

Encuadernación

Tapa Blanda

ISBN13

9781493950362

Categorías

Nanotecnología
Ingeniería mecánica
Ingeniería aplicada de revestimientos de superficies, capas y películas

Scanning Probe Microscopy: Electrical and Electromechanical Phenomena at the Nanoscale (en Inglés)

Sergei V. Kalinin (Autor) · Alexei Gruverman (Autor) · Springer · Tapa Blanda

Libro Nuevo Importado

Envío: 21 a 28 días háb.

$ 520.74$ 260.37

-50%

Costos de importación incluídos en el precio ✅

Libro Nuevo

Quedan más de 100 unidades

$ 260.37

Llega entre el 23 Sep y el 06 Oct a Quito, Pichincha. Seleccionar ubicación

Agregar a lista de deseos

Reseña del libro "Scanning Probe Microscopy: Electrical and Electromechanical Phenomena at the Nanoscale (en Inglés)"

Scanning Probe Microscopy brings up to date a constantly growing knowledge base of electrical and electromechanical characterization at the nanoscale. This comprehensive, two-volume set presents practical and theoretical issues of advanced scanning probe microscopy (SPM) techniques ranging from fundamental physical studies to device characterization, failure analysis, and nanofabrication. Volume 1 focuses on the technical aspects of SPM methods ranging from scanning tunneling potentiometry to electrochemical SPM, and addresses the fundamental physical phenomena underlying the SPM imaging mechanism. Volume 2 concentrates on the practical aspects of SPM characterization of a wide range of materials, including semiconductors, ferroelectrics, dielectrics, polymers, carbon nanotubes, and biomolecules, as well as on SPM-based approaches to nanofabrication and nanolithography.