Name: Strain Effect in Semiconductors: Theory and Device Applications (en Inglés)
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Price: 154.44 USD
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Author: Sun, Yongke ; Thompson, Scott E. ; Nishida, Toshikazu
ISBN: 9781489983152

portada Strain Effect in Semiconductors: Theory and Device Applications (en Inglés)

Strain Effect in Semiconductors: Theory and Device Applications (en Inglés)

Formato

Libro Físico

Autor

Editorial

Idioma

Inglés

N° páginas

350

Encuadernación

Tapa Blanda

Dimensiones

23.4x15.6x1.9 cm

Peso

0.51 kg.

ISBN13

9781489983152

Categorías

Física de la materia condensada (física del estado líquido y del estado sólido)
Ingeniería electrónica
Óptica aplicada

Strain Effect in Semiconductors: Theory and Device Applications (en Inglés)

Yongke Sun (Autor) · Scott E. Thompson (Autor) · Toshikazu Nishida (Autor) · Springer · Tapa Blanda

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Reseña del libro "Strain Effect in Semiconductors: Theory and Device Applications (en Inglés)"

Strain Effect in Semiconductors: Theory and Device Applications presents the fundamentals and applications of strain in semiconductors and semiconductor devices that is relevant for strain-enhanced advanced CMOS technology and strain-based piezoresistive MEMS transducers. Discusses relevant applications of strain while also focusing on the fundamental physics pertaining to bulk, planar, and scaled nano-devices. Hence, this book is relevant for current strained Si logic technology as well as for understanding the physics and scaling for future strained nano-scale devices.