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portada Surface Infrared and Raman Spectroscopy: Methods and Applications (Methods of Surface Characterization) (en Inglés)
Formato
Libro Físico
Editorial
Autor
Año
1995
Idioma
Inglés
N° páginas
270
Encuadernación
Tapa Dura
ISBN
0306449633
ISBN13
9780306449635
N° edición
1995
Categorías

Surface Infrared and Raman Spectroscopy: Methods and Applications (Methods of Surface Characterization) (en Inglés)

W. SuËTaka (Autor) · Plenum Press · Tapa Dura

Surface Infrared and Raman Spectroscopy: Methods and Applications (Methods of Surface Characterization) (en Inglés) - W. SuËTaka

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Reseña del libro "Surface Infrared and Raman Spectroscopy: Methods and Applications (Methods of Surface Characterization) (en Inglés)"

are intended to fill the gap between a manufacturer's handbook, and review articles that highlight the latest scientific developments. A fourth volume will deal with techniques for specimen handling, beam artifacts, and depth profiling. It will provide a compilation of methods that have proven useful for specimen handling and treatment, and it will also address the common artifacts and problems associated with the bombardment of solid sur­ faces by photons, electrons, and ions. A description will be given of methods for depth profiling. Surface characterization measurements are being used increasingly in di­ verse areas of science and technology. We hope that this series will be useful in ensuring that these measurements can be made as efficiently and reliably as possible. Comments on the series are welcomed, as are suggestions for volumes on additional topics. C. J. Powell Gaithersburg, Maryland A. W. Czandema Golden, Colorado D. M. Hercules Pittsburgh, Pennsylvania T. E. Madey New Brunswick, New Jersey J. T. Yates, Jr.

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