Name: Theoretical evaluation of reflectance in AL/SiO2 thin films (en Inglés)
Price: 67.24 USD
Availability: InStock
Author: Ortega Cabrera, Jesús Javier
ISBN: 9786203622201

portada Theoretical evaluation of reflectance in AL/SiO2 thin films (en Inglés)

Theoretical evaluation of reflectance in AL/SiO2 thin films (en Inglés)

Formato

Libro Físico

Autor

Jesús Javier Ortega Cabrera

Editorial

Our Knowledge Publishing

Idioma

Inglés

N° páginas

Encuadernación

Tapa Blanda

Dimensiones

22.9 x 15.2 x 0.5 cm

Peso

0.13 kg.

ISBN13

9786203622201

Categorías

Ingeniería: general

Theoretical evaluation of reflectance in AL/SiO2 thin films (en Inglés)

Jesús Javier Ortega Cabrera (Autor) · Our Knowledge Publishing · Tapa Blanda

Libro Nuevo Importado

Envío: 24 a 31 días háb.

$ 134.49$ 67.24

-50%

Costos de importación incluídos en el precio ✅

Libro Nuevo

Quedan 10 unidades

$ 67.24

Llega entre el 23 Jul y el 05 Ago a Quito, Pichincha. Seleccionar ubicación

Agregar a lista de deseos

Reseña del libro "Theoretical evaluation of reflectance in AL/SiO2 thin films (en Inglés)"

The improvement of the optical properties of a material, such as reflectance, involves the complex search for the optimal experimental parameters in the process of obtaining them. The use of computational software for the simulation of these thin film growth processes represents a substantial benefit due to the non dependence on a real system, as well as the possibility of exploring a wider range of physical quantities involved. In addition, there is a need in the automotive industry, Varroc Lighting Systems(c) has been given the task of improving the reflectance of aluminized headlights, so we carried out the development, using NASCAM(R) software, which uses the Monte Carlo kinetic method to develop a model of the physical system to be studied on a nanometric scale, this will allow us to analyze the influence of different magnitudes that can affect the reflectance of the material.