Name: understanding atomic force microscopy,basic modes for advanced applications (en Inglés)
Price: 172.80 USD
Availability: InStock
Author: Haugstad, Greg
ISBN: 9780470638828

portada understanding atomic force microscopy,basic modes for advanced applications (en Inglés)

understanding atomic force microscopy,basic modes for advanced applications (en Inglés)

Formato

Libro Físico

Autor

Greg Haugstad

Editorial

Wiley

Año

2012

Idioma

Inglés

N° páginas

472

Encuadernación

Tapa Dura

Dimensiones

23.6 x 15.7 x 3.0 cm

Peso

0.79 kg.

ISBN13

9780470638828

Categorías

Equipamiento, experimentos y técnicas científicas
Nanotecnología

understanding atomic force microscopy,basic modes for advanced applications (en Inglés)

Greg Haugstad (Autor) · Wiley · Tapa Dura

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Reseña del libro "understanding atomic force microscopy,basic modes for advanced applications (en Inglés)"

This book enlightens readers on the basic surface properties and distance-dependent intersurface forces one must understand to obtain even simple data from an atomic force microscope (AFM). The material becomes progressively more complex throughout the book, explaining details of calibration, physical origin of artifacts, and signal/noise limitations. Coverage spans imaging, materials property characterization, in-liquid interfacial analysis, tribology, and electromagnetic interactions. "Supplementary material for this book can be found by entering ISBN 9780470638828 on booksupport.wiley.com"