Name: Vapor Generation Techniques for Trace Element Analysis: Fundamental Aspects (en Inglés)
SKU: 56721450
Price: 229.24 USD
Availability: InStock
Author: D'ulivo Alessandro,Sturgeon Ralph

portada Vapor Generation Techniques for Trace Element Analysis: Fundamental Aspects (en Inglés)

Vapor Generation Techniques for Trace Element Analysis: Fundamental Aspects (en Inglés)

Formato

Libro Físico

Editorial

Elsevier

Autor

D'ulivo Alessandro,Sturgeon Ralph

Idioma

Inglés

N° páginas

476

Encuadernación

Tapa Blanda

ISBN13

9780323858342

N° edición

Vapor Generation Techniques for Trace Element Analysis: Fundamental Aspects (en Inglés)

D'ulivo Alessandro,Sturgeon Ralph (Autor) · Elsevier · Tapa Blanda

Libro Nuevo Importado

Envío: 23 a 31 días háb.

$ 416.80$ 229.24

-45%

Costos de importación incluídos en el precio ✅

Libro Nuevo

Quedan 100 unidades

$ 229.24

Llega entre el 25 Sep y el 12 Oct a Quito, Pichincha. Seleccionar ubicación

Agregar a lista de deseos

Reseña del libro "Vapor Generation Techniques for Trace Element Analysis: Fundamental Aspects (en Inglés)"

Vapor Generation Techniques for Trace Element Analysis: Fundamental Aspects provides an overview and discussion of the fundamental aspects governing derivatization reactions of trace-level elements for analytical purposes. Vapor generation techniques coupled with atomic or mass spectrometry have been employed for over 50 years, but their popularity has dramatically increased in recent years, especially as alternative vapor generation approaches have been developed. This book bridges the knowledge gap of the derivatization mechanisms that yield volatile compounds and provides an update on recent developments in vapor generation techniques used for the determination and speciation of trace elements by atomic optical and mass spectrometry. It will serve as a comprehensive, single-source overview of recent developments, providing readers with an understanding of the correct implementation--and limitations--of applying vapor generation techniques to everyday analytical problems facing the trace element analyst.