Name: VLSI Design and Test. 26th International Symposium, VDAT 2022, Jammu, India, July 17-19, 2022, Revised Selected Papers (en Inglés)
Price: 55.19 USD
Availability: InStock
Author: Ambika Prasad Shah;Anand Darji;Sudeb Dasgupta
ISBN: 9783031215155

portada VLSI Design and Test. 26th International Symposium, VDAT 2022, Jammu, India, July 17-19, 2022, Revised Selected Papers (en Inglés)

VLSI Design and Test. 26th International Symposium, VDAT 2022, Jammu, India, July 17-19, 2022, Revised Selected Papers (en Inglés)

Formato

Libro Físico

Editorial

Springer Nature B.V.

Autor

Ambika Prasad Shah;Anand Darji;Sudeb Dasgupta

Año

2022

Idioma

Inglés

N° páginas

616

Encuadernación

Tapa Blanda

ISBN13

9783031215155

VLSI Design and Test. 26th International Symposium, VDAT 2022, Jammu, India, July 17-19, 2022, Revised Selected Papers (en Inglés)

Ambika Prasad Shah;Anand Darji;Sudeb Dasgupta (Autor) · Springer Nature B.V. · Tapa Blanda

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Reseña del libro "VLSI Design and Test. 26th International Symposium, VDAT 2022, Jammu, India, July 17-19, 2022, Revised Selected Papers (en Inglés)"

This book constitutes the proceedings of the 26th International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2022, which took place in Jammu, India, in July 2022.
The 32 regular papers and 16 short papers presented in this volume were carefully reviewed and selected from 220 submissions. They were organized in topical sections as follows: Devices and Technology; Sensors; Analog/Mixed Signal; Digital Design; Emerging Technologies and Memory; System Design.