portada Atomic Force Microscopy (en Inglés)

Formato

Libro Físico

Autor

Bert Voigtländer

Editorial

Springer

Idioma

Inglés

N° páginas

331

Encuadernación

Tapa Dura

Dimensiones

23.4x15.6x2.1 cm

Peso

0.66 kg.

ISBN13

9783030136536

N° edición

0002

Categorías

Nanociencias
Análisis espectral, espectroquímica, espectrometría de masas
Nanotecnología

Atomic Force Microscopy (en Inglés)

Bert Voigtländer (Autor) · Springer · Tapa Dura

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Reseña del libro "Atomic Force Microscopy (en Inglés)"

This book explains the operating principles of atomic force microscopy with the aim of enabling the reader to operate a scanning probe microscope successfully and understand the data obtained with the microscope. This enhanced second edition to "Scanning Probe Microscopy" (Springer, 2015) represents a substantial extension and revision to the part on atomic force microscopy of the previous book. Covering both fundamental and important technical aspects of atomic force microscopy, this book concentrates on the principles the methods using a didactic approach in an easily digestible manner. While primarily aimed at graduate students in physics, materials science, chemistry, nanoscience and engineering, this book is also useful for professionals and newcomers in the field, and is an ideal reference book in any atomic force microscopy lab.