Name: Cmos rf Circuit Design for Reliability and Variability (Springerbriefs in Applied Sciences and Technology) (en Inglés)
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Author: Jiann-Shiun Yuan

portada Cmos rf Circuit Design for Reliability and Variability (Springerbriefs in Applied Sciences and Technology) (en Inglés)

Cmos rf Circuit Design for Reliability and Variability (Springerbriefs in Applied Sciences and Technology) (en Inglés)

Formato

Libro Físico

Editorial

Springer

Autor

Jiann-Shiun Yuan

Año

2016

Idioma

Inglés

N° páginas

114

Encuadernación

Tapa Blanda

ISBN13

9789811008825

N° edición

Categorías

Ingeniería eléctrica

Cmos rf Circuit Design for Reliability and Variability (Springerbriefs in Applied Sciences and Technology) (en Inglés)

Jiann-Shiun Yuan (Autor) · Springer · Tapa Blanda

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Reseña del libro "Cmos rf Circuit Design for Reliability and Variability (Springerbriefs in Applied Sciences and Technology) (en Inglés)"

The subject of this book is CMOS RF circuit design for reliability. The device reliability and process variation issues on RF transmitter and receiver circuits will be particular interest to the readers in the field of semiconductor devices and circuits. This proposed book is unique to explore typical reliability issues in the device and technology level and then to examine their impact on RF wireless transceiver circuit performance. Analytical equations, experimental data, device and circuit simulation results will be given for clear explanation. The main benefit the reader derive from this book will be clear understanding on how device reliability issues affects the RF circuit performance subjected to operation aging and process variations.