Name: Debug Automation from Pre-Silicon to Post-Silicon (en Inglés)
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Author: Dehbashi, Mehdi ; Fey, Görschwin
ISBN: 9783319356105

portada Debug Automation from Pre-Silicon to Post-Silicon (en Inglés)

Debug Automation from Pre-Silicon to Post-Silicon (en Inglés)

Formato

Libro Físico

Autor

Görschwin Fey

Mehdi Dehbashi

Editorial

Springer

Idioma

Inglés

N° páginas

171

Encuadernación

Tapa Blanda

ISBN13

9783319356105

N° edición

Categorías

Electrónica: circuitos y componentes
Ordenadores centrales («mainframes») y miniordenadores
Arquitectura y diseño lógico de ordenadores

Debug Automation from Pre-Silicon to Post-Silicon (en Inglés)

Görschwin Fey (Autor) · Mehdi Dehbashi (Autor) · Springer · Tapa Blanda

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Reseña del libro "Debug Automation from Pre-Silicon to Post-Silicon (en Inglés)"

This book describes automated debugging approaches for the bugs and the faults which appear in different abstraction levels of a hardware system. The authors employ a transaction-based debug approach to systems at the transaction-level, asserting the correct relation of transactions. The automated debug approach for design bugs finds the potential fault candidates at RTL and gate-level of a circuit. Debug techniques for logic bugs and synchronization bugs are demonstrated, enabling readers to localize the most difficult bugs. Debug automation for electrical faults (delay faults)finds the potentially failing speedpaths in a circuit at gate-level. The various debug approaches described achieve high diagnosis accuracy and reduce the debugging time, shortening the IC development cycle and increasing the productivity of designers.Describes a unified framework for debug automation used at both pre-silicon and post-silicon stages;Provides approaches for debug automation of a hardware system at different levels of abstraction, i.e., chip, gate-level, RTL and transaction level;Includes techniques for debug automation of design bugs and electrical faults, as well as an infrastructure to debug NoC-based multiprocessor SoCs.