Name: defect and impurity engineered semiconductors and devices: volume 378 (en Inglés)
Price: 55.06 USD
Availability: InStock
Author: Akasaki, I. ; Ashok, S. ; Chevallier, J.
ISBN: 9781558992818

portada defect and impurity engineered semiconductors and devices: volume 378 (en Inglés)

defect and impurity engineered semiconductors and devices: volume 378 (en Inglés)

Formato

Libro Físico

Ilustrado por

I. Akasaki

S. Ashok

J. Chevallier

Editorial

Materials Research Society

Autor

Akasaki, I. ; Ashok, S. ; Chevallier, J.

Año

1995

Idioma

Inglés

N° páginas

1082

Encuadernación

Tapa Dura

Dimensiones

22.9 x 15.2 x 5.6 cm

Peso

1.60 kg.

ISBN

1558992812

ISBN13

9781558992818

Categorías

Ciencia de materiales
Dispositivos y materiales electrónicos

defect and impurity engineered semiconductors and devices: volume 378 (en Inglés)

I. Akasaki (Ilustrado por) · S. Ashok (Ilustrado por) · J. Chevallier (Ilustrado por) · Materials Research Society · Tapa Dura

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Reseña del libro "defect and impurity engineered semiconductors and devices: volume 378 (en Inglés)"

Defect engineering has come of age. That theme is well documented by both the academic and industrial research communities in this book from MRS. Going beyond defect control, the book explores the engineering of desired properties in semiconductor materials and devices through the deliberate introduction and manipulation of defects and impurities. Papers are grouped around ten distinct topics covering materials, processing and devices. Topics include: grown-in defects in bulk crystals; grown-in defects in thin films; gettering and related phenomena; hydrogen interaction with semiconductors; defect issues in widegap semiconductors; defect characterization; ion implantation and process-induced defects; defects in devices; interfaces, quantum wells and superlattices; and defect properties, reaction, activation and passivation.