Name: Electron and ion Microscopy and Microanalysis: Principles and Applications, Second Edition, (Optical Science and Engineering) [Soft Cover ] (en Inglés)
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Author: Murr, Lawrence E.

portada Electron and ion Microscopy and Microanalysis: Principles and Applications, Second Edition, (Optical Science and Engineering) [Soft Cover ] (en Inglés)

Electron and ion Microscopy and Microanalysis: Principles and Applications, Second Edition, (Optical Science and Engineering) [Soft Cover ] (en Inglés)

Formato

Libro Físico

Ilustrado por

Lawrence E. Murr

Editorial

CRC Press

Autor

Murr, Lawrence E.

Idioma

Inglés

N° páginas

856

Encuadernación

Tapa Blanda

Dimensiones

25.1x17.5x4.8 cm

Peso

1.45 kg.

ISBN13

9780367402945

N° edición

0002

Categorías

Equipamiento, experimentos y técnicas científicas
Ingeniería: general
Tecnología láser y holografía

Electron and ion Microscopy and Microanalysis: Principles and Applications, Second Edition, (Optical Science and Engineering) [Soft Cover ] (en Inglés)

Lawrence E. Murr (Ilustrado por) · CRC Press · Tapa Blanda

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Reseña del libro "Electron and ion Microscopy and Microanalysis: Principles and Applications, Second Edition, (Optical Science and Engineering) [Soft Cover ] (en Inglés)"

The publication date of the first edition is not stated, but the new edition is apparently considerably revised and expanded. It was written to serve as a multi-purpose text at the senior or graduate level and as a reference for the practicing scientist or engineer. Readers should have a math backgr