Name: High-Level Estimation and Exploration of Reliability for Multi-Processor System-On-Chip (en Inglés)
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Price: 104.43 USD
Availability: InStock
Author: Wang, Zheng ; Chattopadhyay, Anupam
ISBN: 9789811093210

portada High-Level Estimation and Exploration of Reliability for Multi-Processor System-On-Chip (en Inglés)

High-Level Estimation and Exploration of Reliability for Multi-Processor System-On-Chip (en Inglés)

Formato

Libro Físico

Autor

Anupam Chattopadhyay

Zheng Wang

Editorial

Springer

Idioma

Inglés

N° páginas

197

Encuadernación

Tapa Blanda

Dimensiones

23.4x15.6x1.2 cm

Peso

0.31 kg.

ISBN13

9789811093210

Categorías

Electrónica: circuitos y componentes
Hardware (o soporte físico del ordenador)
Ciencias de la computación

High-Level Estimation and Exploration of Reliability for Multi-Processor System-On-Chip (en Inglés)

Anupam Chattopadhyay (Autor) · Zheng Wang (Autor) · Springer · Tapa Blanda

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Reseña del libro "High-Level Estimation and Exploration of Reliability for Multi-Processor System-On-Chip (en Inglés)"

This book introduces a novel framework for accurately modeling the errors in nanoscale CMOS technology and developing a smooth tool flow at high-level design abstractions to estimate and mitigate the effects of errors. The book presents novel techniques for high-level fault simulation and reliability estimation as well as architecture-level and system-level fault tolerant designs. It also presents a survey of state-of-the-art problems and solutions, offering insights into reliability issues in digital design and their cross-layer countermeasures.