Name: introduction to advanced system-on-chip test design and optimization (en Inglés)
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Availability: InStock
Author: Larsson, Erik
ISBN: 9781441952691

portada introduction to advanced system-on-chip test design and optimization (en Inglés)

introduction to advanced system-on-chip test design and optimization (en Inglés)

Formato

Libro Físico

Autor

Erik Larsson

Editorial

Springer

Año

2011

Idioma

Inglés

N° páginas

388

Encuadernación

Tapa Blanda

Dimensiones

23.4x15.6x2.1 cm

Peso

0.57 kg.

ISBN

1441952691

ISBN13

9781441952691

Categorías

Ingeniería mecánica
Ingeniería eléctrica
Óptica aplicada

introduction to advanced system-on-chip test design and optimization (en Inglés)

Erik Larsson (Autor) · Springer · Tapa Blanda

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Reseña del libro "introduction to advanced system-on-chip test design and optimization (en Inglés)"

SOC test design and its optimization is the topic of this book, and the aim is to give an introduction to testing, describe the problems related to SOC testing, discuses the modeling granularity and the implementation into EDA (electronic design automation) tools. It first introduces readers to test problems including faults, fault types, design-flow, design-for-test techniques such as scan-testing and Boundary Scan. Then it discusses SOC related problems such as system modeling, test conflicts, power consumption, test access mechanism design, test scheduling and defect-oriented scheduling. The final part focuses on SOC applications, such as integrated test scheduling and TAM design, defect-oriented scheduling, and integrating test design with core selection process. Intended for graduate students and PhD-students working in the test field, the manual also aids researchers and professors who would like to get into the area of SOC testing.