Name: Lock-In Thermography: Basics and use for Evaluating Electronic Devices and Materials (Springer Series in Advanced Microelectronics) (en Inglés)
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Author: Breitenstein,Warta,Schubert

portada Lock-In Thermography: Basics and use for Evaluating Electronic Devices and Materials (Springer Series in Advanced Microelectronics) (en Inglés)

Lock-In Thermography: Basics and use for Evaluating Electronic Devices and Materials (Springer Series in Advanced Microelectronics) (en Inglés)

Formato

Libro Físico

Editorial

Springer

Autor

Breitenstein,Warta,Schubert

Año

2019

Idioma

Inglés

N° páginas

321

Encuadernación

Tapa Dura

ISBN13

9783319998244

Categorías

Tecnología láser y holografía

Lock-In Thermography: Basics and use for Evaluating Electronic Devices and Materials (Springer Series in Advanced Microelectronics) (en Inglés)

Breitenstein,Warta,Schubert (Autor) · Springer · Tapa Dura

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Reseña del libro "Lock-In Thermography: Basics and use for Evaluating Electronic Devices and Materials (Springer Series in Advanced Microelectronics) (en Inglés)"

This is the first book on lock-in thermography, an analytical method applied to the diagnosis of microelectronic devices. This useful introduction and guide reviews various experimental approaches to lock-in thermography, with special emphasis on the lock-in IR thermography developed by the authors themselves.