portada Microprobe Characterization of Optoelectronic Materials (en Inglés)

Microprobe Characterization of Optoelectronic Materials (en Inglés)

Formato

Libro Físico

Autor

Juan Jimenez

Editorial

CRC Press

Año

2002

Idioma

Inglés

N° páginas

730

Encuadernación

Tapa Dura

Dimensiones

24x15.6x4.5 cm

Peso

1.13 kg.

ISBN

1560329416

ISBN13

9781560329411

Categorías

Física óptica
Electricidad, electromagnetismo y magnetismo
Ciencia de materiales

Microprobe Characterization of Optoelectronic Materials (en Inglés)

Juan Jimenez (Autor) · CRC Press · Tapa Dura

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Reseña del libro "Microprobe Characterization of Optoelectronic Materials (en Inglés)"

Each chapter in this book is written by a group of leading experts in one particular type of microprobe technique. They emphasize the ability of that technique to provide information about small structures (i.e. quantum dots, quantum lines), microscopic defects, strain, layer composition, and its usefulness as diagnostic technique for device degradation. Different types of probes are considered (electrons, photons and tips) and different microscopies (optical, electron microscopy and tunneling). It is an ideal reference for post-graduate and experienced researchers, as well as for crystal growers and optoelectronic device makers.