Name: Noise Coupling in System-On-Chip (en Inglés)
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Author: Noulis, Thomas
ISBN: 9781498796774

portada Noise Coupling in System-On-Chip (en Inglés)

Noise Coupling in System-On-Chip (en Inglés)

Formato

Libro Físico

Editorial

CRC Press

Autor

Noulis, Thomas

Año

2017

Idioma

Inglés

N° páginas

518

Encuadernación

Tapa Dura

ISBN13

9781498796774

N° edición

Categorías

Ingeniería eléctrica
Ingeniería electrónica

Noise Coupling in System-On-Chip (en Inglés)

Noulis, Thomas (Autor) · CRC Press · Tapa Dura

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Reseña del libro "Noise Coupling in System-On-Chip (en Inglés)"

Noise Coupling is the root-cause of the majority of Systems on Chip (SoC) product fails. The book discusses a breakthrough substrate coupling analysis flow and modelling toolset, addressing the needs of the design community. The flow provides capability to analyze noise components, propagating through the substrate, the parasitic interconnects and the package. Using this book, the reader can analyze and avoid complex noise coupling that degrades RF and mixed signal design performance, while reducing the need for conservative design practices. With chapters written by leading international experts in the field, novel methodologies are provided to identify noise coupling in silicon. It additionally features case studies that can be found in any modern CMOS SoC product for mobile communications, automotive applications and readout front ends.