Name: noncontact atomic force microscopy: volume 2 (en Inglés)
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Author: Morita, Seizo ; Giessibl, Franz J. ; Wiesendanger, Roland

portada noncontact atomic force microscopy: volume 2 (en Inglés)

noncontact atomic force microscopy: volume 2 (en Inglés)

Formato

Libro Físico

Ilustrado por

Editorial

Autor

Morita, Seizo ; Giessibl, Franz J. ; Wiesendanger, Roland

Año

2012

Idioma

Inglés

N° páginas

401

Encuadernación

Tapa Blanda

Dimensiones

23.4x15.6x2.2 cm

Peso

0.59 kg.

ISBN

3642260705

ISBN13

9783642260704

Categorías

Física de la materia condensada (física del estado líquido y del estado sólido)
Nanotecnología
Ciencia de materiales

noncontact atomic force microscopy: volume 2 (en Inglés)

Roland Wiesendanger (Ilustrado por) · Seizo Morita (Ilustrado por) · Franz J. Giessibl (Ilustrado por) · Springer · Tapa Blanda

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Reseña del libro "noncontact atomic force microscopy: volume 2 (en Inglés)"

Since the original publication of Noncontact Atomic Force Microscopy in 2002, the noncontact atomic force microscope (NC-AFM) has achieved remarkable progress. This second treatment deals with the following outstanding recent results obtained with atomic resolution since then: force spectroscopy and mapping with atomic resolution; tuning fork; atomic manipulation; magnetic exchange force microscopy; atomic and molecular imaging in liquids; and other new technologies. These results and technologies are now helping evolve NC-AFM toward practical tools for characterization and manipulation of individual atoms/molecules and nanostructures with atomic/subatomic resolution. Therefore, the book exemplifies how NC-AFM has become a crucial tool for the expanding fields of nanoscience and nanotechnology.