portada Reliability of Microtechnology: Interconnects, Devices and Systems (en Inglés)

Reliability of Microtechnology: Interconnects, Devices and Systems (en Inglés)

Formato

Libro Físico

Autor

Editorial

Idioma

Inglés

N° páginas

204

Encuadernación

Tapa Blanda

Dimensiones

23.4x15.6x1.2 cm

Peso

0.31 kg.

ISBN13

9781489982117

Categorías

Nanotecnología
Control de calidad industrial
Ingeniería electrónica

Reliability of Microtechnology: Interconnects, Devices and Systems (en Inglés)

Johan Liu (Autor) · Olli Salmela (Autor) · Jussi Sarkka (Autor) · Springer · Tapa Blanda

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Reseña del libro "Reliability of Microtechnology: Interconnects, Devices and Systems (en Inglés)"

Reliability of Microtechnology discusses the reliability of microtechnology products from the bottom up, beginning with devices and extending to systems. The book's focus includes but is not limited to reliability issues of interconnects, the methodology of reliability concepts and general failure mechanisms. Specific failure modes in solder and conductive adhesives are discussed at great length. Coverage of accelerated testing, component and system level reliability, and reliability design for manufacturability are also described in detail.The book also includes exercises and detailed solutions at the end of each chapter.