portada Reliability of Nanoscale Circuits and Systems: Methodologies and Circuit Architectures (en Inglés)

Reliability of Nanoscale Circuits and Systems: Methodologies and Circuit Architectures (en Inglés)

Formato

Libro Físico

Autor

Editorial

Idioma

Inglés

N° páginas

195

Encuadernación

Tapa Blanda

Dimensiones

23.4x15.6x1.2 cm

Peso

0.32 kg.

ISBN13

9781489982544

Categorías

Manufactura asistida por ordenador (cam)
Electrónica: circuitos y componentes
Diseño asistido por ordenador (cad)

Reliability of Nanoscale Circuits and Systems: Methodologies and Circuit Architectures (en Inglés)

Alexandre Schmid (Autor) · Yusuf Leblebici (Autor) · Milos Stanisavljevic (Autor) · Springer · Tapa Blanda

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Reseña del libro "Reliability of Nanoscale Circuits and Systems: Methodologies and Circuit Architectures (en Inglés)"

This book is intended to give a general overview of reliability, faults, fault models, nanotechnology, nanodevices, fault-tolerant architectures and reliability evaluation techniques. Additionally, the book provides an in depth state-of-the-art research results and methods for fault tolerance as well as the methodology for designing fault-tolerant systems out of highly unreliable components.