portada Rf and Microwave Modeling and Measurement Techniques for Field Effect Transistors (en Inglés)

Rf and Microwave Modeling and Measurement Techniques for Field Effect Transistors (en Inglés)

Formato

Libro Físico

Autor

Jianjun Gao

Editorial

SciTech Publishing

Año

2010

Idioma

Inglés

N° páginas

350

Encuadernación

Tapa Dura

Dimensiones

23.4x15.7x2.3 cm

Peso

0.59 kg.

ISBN

1891121898

ISBN13

9781891121890

Categorías

Dispositivos y materiales electrónicos
Tecnología de microondas

Rf and Microwave Modeling and Measurement Techniques for Field Effect Transistors (en Inglés)

Jianjun Gao (Autor) · SciTech Publishing · Tapa Dura

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Reseña del libro "Rf and Microwave Modeling and Measurement Techniques for Field Effect Transistors (en Inglés)"

This book is an introduction to microwave and RF signal modeling and measurement techniques for field effect transistors. It assumes only a basic course in electronic circuits and prerequisite knowledge for readers to apply the techniques and improve the performance of integrated circuits, reduce design cycles and increase their chance at first time success. The first chapters offer a general overview and discussion of microwave signal and noise matrices, and microwave measurement techniques. The following chapters address modeling techniques for field effect transistors and cover models such as: small signal, large signal, noise, and the artificial neural network based.