Name: Semiconductor Memories: Technology, Testing, and Reliability (en Inglés)
Price: 258.66 USD
Availability: InStock
Author: Ashok K. Sharma
ISBN: 9780780310001

Selecciona tu país

América

Europa

Resto del mundo

portada Semiconductor Memories: Technology, Testing, and Reliability (en Inglés)

Semiconductor Memories: Technology, Testing, and Reliability (en Inglés)

Formato

Libro Físico

Editorial

John Wiley & Sons Inc

Autor

Ashok K. Sharma

Año

2002

Idioma

Inglés

N° páginas

476

Encuadernación

Tapa Dura

ISBN

0780310004

ISBN13

9780780310001

Categorías

Ingeniería eléctrica

Semiconductor Memories: Technology, Testing, and Reliability (en Inglés)

Ashok K. Sharma (Autor) · John Wiley & Sons Inc · Tapa Dura

Libro Nuevo Importado

Envío: 18 a 25 días háb.

$ 470.28$ 258.66

-45%

Costos de importación incluídos en el precio ✅

Libro Nuevo

Quedan 50 unidades

$ 258.66

Llega entre el 08 Sep y el 21 Sep a Quito, Pichincha. Seleccionar ubicación

Agregar a lista de deseos

Reseña del libro "Semiconductor Memories: Technology, Testing, and Reliability (en Inglés)"

Semiconductor Memories provides in-depth coverage in the areas of design for testing, fault tolerance, failure modes and mechanisms, and screening and qualification methods including. * Memory cell structures and fabrication technologies. * Application-specific memories and architectures. * Memory design, fault modeling and test algorithms, limitations, and trade-offs. * Space environment, radiation hardening process and design techniques, and radiation testing. * Memory stacks and multichip modules for gigabyte storage.