Name: The Second Static Analysis Took Exposition 2009 (en Inglés)
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Author: U. S. Department of Commerce
ISBN: 9781496005267

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portada The Second Static Analysis Took Exposition 2009 (en Inglés)

The Second Static Analysis Took Exposition 2009 (en Inglés)

Formato

Libro Físico

Autor

U. S. Department of Commerce

Editorial

Createspace

Idioma

Inglés

N° páginas

Encuadernación

Tapa Blanda

Dimensiones

28x21.6x0.2 cm

Peso

0.10 kg.

ISBN13

9781496005267

Categorías

Enciclopedias y obras de consulta

The Second Static Analysis Took Exposition 2009 (en Inglés)

U. S. Department of Commerce (Autor) · Createspace · Tapa Blanda

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Reseña del libro "The Second Static Analysis Took Exposition 2009 (en Inglés)"

The NIST Software Assurance Metrics And Tool Evaluation (SAMATE) project conducted the second Static Analysis Tool Exposition (SATE) in 2009 to advance research in static analysis tools that find security defects in source code. The main goals of SATE were to enable empirical research based on large test sets, encourage improvements to tools, and promote broader and more rapid adoption of tools by objectively demonstrating their use on production software.