portada x-ray diffuse scattering from self-organized mesoscopic semiconductor structures (en Inglés)

x-ray diffuse scattering from self-organized mesoscopic semiconductor structures (en Inglés)

Formato

Libro Físico

Autor

Martin Schmidbauer

Editorial

Springer

Año

2010

Idioma

Inglés

N° páginas

204

Encuadernación

Tapa Blanda

Dimensiones

23.4x15.6x1.2 cm

Peso

0.31 kg.

ISBN

3642057691

ISBN13

9783642057694

Categorías

Física nuclear/estructura nuclear
Ingeniería aplicada de materiales electrónicos, magnéticos y ópticos
Óptica aplicada

x-ray diffuse scattering from self-organized mesoscopic semiconductor structures (en Inglés)

Martin Schmidbauer (Autor) · Springer · Tapa Blanda

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Reseña del libro "x-ray diffuse scattering from self-organized mesoscopic semiconductor structures (en Inglés)"

This monograph represents a critical survey of the outstanding capabilities of X-ray diffuse scattering for the structural characterization of mesoscopic material systems. The mesoscopic regime comprises length scales ranging from a few up to some hundreds of nanometers. It is of particular relevance at semiconductor layer systems where, for example, interface roughness or low-dimensional objects such as quantum dots and quantum wires have attracted much interest. An extensive overview of the present state-of-the-art theory of X-ray diffuse scattering at mesoscopic structures is given followed by a valuable description of various experimental techniques. Selected up-to-date examples are discussed. The aim of the present book is to combine aspects of self-organized growth of mesoscopic structures with corresponding X-ray diffuse scattering experiments.