Name: X-Ray Structure Analysis (en Inglés)
Price: 56.82 USD
Availability: InStock
Author: Siegrist, Theo
ISBN: 9783110610703

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portada X-Ray Structure Analysis (en Inglés)

Formato

Libro Físico

Autor

Theo Siegrist

Editorial

de Gruyter

Idioma

Inglés

N° páginas

250

Encuadernación

Tapa Blanda

Dimensiones

24.4 x 17.0 x 1.3 cm

Peso

0.40 kg.

ISBN13

9783110610703

Categorías

Química inorgánica
Cristalografía
Ciencia de materiales

X-Ray Structure Analysis (en Inglés)

Theo Siegrist (Autor) · de Gruyter · Tapa Blanda

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Reseña del libro "X-Ray Structure Analysis (en Inglés)"

This book offers a compact overview on crystallography, symmetry, and applications of symmetry concepts. The author explains the theory behind scattering and diffraction of electromagnetic radiation. X-ray diffraction on single crystals as well as quantitative evaluation of powder patterns are discussed.