Name: Compact Modeling: Principles, Techniques and Applications (en Inglés)
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Availability: InStock
Author: Gildenblat, Gennady

portada Compact Modeling: Principles, Techniques and Applications (en Inglés)

Compact Modeling: Principles, Techniques and Applications (en Inglés)

Formato

Libro Físico

Editorial

Springer

Autor

Gildenblat, Gennady

Idioma

Inglés

N° páginas

527

Encuadernación

Tapa Blanda

Dimensiones

23.4x15.6x2.8 cm

Peso

0.76 kg.

ISBN13

9789400793248

Categorías

Física de la materia condensada (física del estado líquido y del estado sólido)
Análisis espectral, espectroquímica, espectrometría de masas
Electrónica: circuitos y componentes

Compact Modeling: Principles, Techniques and Applications (en Inglés)

Gildenblat, Gennady (Autor) · Springer · Tapa Blanda

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Reseña del libro "Compact Modeling: Principles, Techniques and Applications (en Inglés)"

Preface. Part I. Compact Models of MOS Transistors. 1. Surface-Ppotential-Based Compact Model of Bulk MOSFET. 2. PSP-SOI: A Surface-Potential-Based Compact Model of SOI MOSFETs. 3. Benchmark Tests for MOSFET Compact Models . 4. High-Voltage MOSFET Modeling. 5. Physics of Noise Performance of Nanoscale Bulk MOS Transistors. Part II Compact Models of Bipolar Junction Transistors. 6. Introduction to Bipolar Transistor Modeling. 7. Mextram. 8. The HiCuM Bipolar Transistor Model. Part III. Compact Models of Passive Devices. 9. Integrated Resistor Modeling. 10. The JUNCAP2 Model for Junction Diodes. 11. Surface-Potential-Based MOS Varactor Model. 12. Modeling of On-chip RF Passive Components. Part IV. Modeling of Multiple Gate MOSFETs. 13. Multi-Gate MOSFET Compact Model BSIM-MG. 14. Compact Modeling of Double-Gate and Nanowire MOSFETs. Part V. Statistical Modeling. 15. Modeling of MOS Matching. 16. Statistical Modeling Using Backward Propagation of Variance (BPV). Index.