Name: data mining and diagnosing ic fails (en Inglés)
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Author: Huisman, Leendert M.
ISBN: 9781441937674

portada data mining and diagnosing ic fails (en Inglés)

data mining and diagnosing ic fails (en Inglés)

Formato

Libro Físico

Autor

Leendert M. Huisman

Editorial

Springer

Año

2010

Idioma

Inglés

N° páginas

250

Encuadernación

Tapa Blanda

Dimensiones

23.4x15.6x1.4 cm

Peso

0.39 kg.

ISBN

1441937676

ISBN13

9781441937674

Categorías

Ingeniería eléctrica
Ingeniería electrónica
Lenguajes de programación y extensión/scripting: general

data mining and diagnosing ic fails (en Inglés)

Leendert M. Huisman (Autor) · Springer · Tapa Blanda

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Reseña del libro "data mining and diagnosing ic fails (en Inglés)"

There are many techniques for analyzing IC fails, but they are scattered over the professional IC test and diagnosis literature, and in various statistics and data mining handbooks. Moreover, many data mining techniques from other data analysis environments are appropriate for analyzing IC fails, but have not yet been employed for that purpose. Data Mining and Diagnosing IC Fails brings together a large number of analysis techniques that are suitable for IC fail data, but that are not available elsewhere in a single place. Several of the techniques, in fact, have been presented only recently in technical conferences. The various approaches discussed in this book have a thorough theoretical underpinning, but are geared towards applications on real life fail data and state of the art ICs. The description techniques and analysis routines are sufficiently detailed that professional manufacturing engineers can implement them in their own work environment.