Name: Neutron and X-ray Reflectometry: Emerging phenomena at heterostructure interfaces (en Inglés)
Price: 290.38 USD
Availability: InStock
Author: Basu, Saibal ; Singh, Surendra
ISBN: 9780750346931

portada Neutron and X-ray Reflectometry: Emerging phenomena at heterostructure interfaces (en Inglés)

Formato

Libro Físico

Autor

Saibal Basu

Surendra Singh

Editorial

Institute of Physics Publishing

Idioma

Inglés

N° páginas

200

Encuadernación

Tapa Dura

Dimensiones

25.4 x 17.8 x 1.1 cm

Peso

0.54 kg.

ISBN13

9780750346931

Categorías

Electricidad, electromagnetismo y magnetismo

Neutron and X-ray Reflectometry: Emerging phenomena at heterostructure interfaces (en Inglés)

Saibal Basu (Autor) · Surendra Singh (Autor) · Institute of Physics Publishing · Tapa Dura

Libro Físico

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Reseña del libro "Neutron and X-ray Reflectometry: Emerging phenomena at heterostructure interfaces (en Inglés)"

This book introduces the techniques of neutron and x-ray reflectometry and presents the studies carried out to date, using the techniques to understand emerging phenomena at the interfaces of thin films.